In de filmindustrie is de diktemeting van transparante materialen al lang een pijnpunt. Voor PET-verpakkingsfolies, optische beschermfolies en lithium-ionbatterijscheiders kunnen afwijkingen van micron-niveau in de dikte de lichtdoorlatendheid, mechanische sterkte en elektrochemische prestaties direct beïnvloeden. Traditionele laser triangulatie heeft de neiging om te lijden onder defocus op transparante materialen; ultrasone methoden missen voldoende precisie; de gravimetrische methode ondersteunt alleen offline steekproefinspectie en kan geen inline monitoring realiseren. Spectrale confocale technologie lost de uitdaging van uiterst nauwkeurige diktemeting voor transparante folies perfect op.
Spectrale confocale is een uiterst nauwkeurige verplaatsingsmeettechnologie gebaseerd op golflengtecodering. Het zet chromatische aberratie, een tekortkoming in traditionele optica, om in een kernmiddel voor afstandsmeting. Compatibel met een breed scala aan materialen, waaronder transparante, doorschijnende, hoogreflecterende en laagreflecterende oppervlakken, bereikt het een meetnauwkeurigheid van submicron.
Wit licht passeert een dispersieve lensassemblage. Licht van verschillende golflengten wordt op verschillende posities langs de optische as gefocust: kortgolvig blauw licht ligt dicht bij de lens, terwijl langgolvig rood licht verder weg van de lens ligt. Alleen lichtstralen die precies het brandpunt raken, produceren sterke reflecties; al het andere strooilicht wordt gefilterd door de speldgatopening. De spectrometer identificeert de centrale golflengte van het gereflecteerde licht, waaruit de positie van het gemeten oppervlak kan worden berekend. Dit levert stabiele metingen en sterke anti-interferentieprestaties.
Wanneer de lichtstraal de transparante folie raakt, worden twee reflectiesignalen gegenereerd: De reflectie van het bovenoppervlak vormt de eerste spectrale piek. Het licht dringt door de folie en reflecteert van het onderoppervlak om de tweede spectrale piek te vormen. Het optische weglengteverschil wordt berekend uit deze twee pieken. Door deze waarde te delen door de brekingsindex van de folienlevert de werkelijke fysieke dikte op: Fysieke dikted = optische weglengteverschil ÷ brekingsindex n
Voordelen: Het verkrijgt zowel positie als dikte in één enkele meting. Contactloos en niet-destructief, het vereist geen stilstand van de machine en is geschikt voor inline monitoring op productielijnen.
Spectrale confocale sensoren kunnen de detectiemogelijkheden voor complexe oppervlakken en microstructuren verbeteren via verschillende spotgrootte-opties:
- Kleine spot: geschikt voor het meten van kleine doelen, fijne contouren en oppervlakken met complexe profielen.
- Grote spot: ideaal voor ruwe oppervlakken en sterk verstrooiende materialen. Het onderdrukt de invloed van lokale textuur om stabielere signalen te leveren.
- Vier-spot modus: Meerdere lichtvlekken voeren onafhankelijke metingen uit gevolgd door gegevensberekening, waardoor meetfouten veroorzaakt door oneffenheden van het oppervlak, kanteling en lokale defecten worden verminderd.
Dit voordeel maakt spectrale confocale technologie geschikt niet alleen voor de diktemeting van platte folies, maar ook voor de inspectie van beschermfolies, optische coatings, composietfolies en transparante materialen met relatief complexe oppervlaktestructuren.
Van "worstelen met defocusmeting" tot "afstand lezen via golflengte", spectrale confocale technologie herdefinieert de meetmethode voor transparante folies met een enkele straal wit licht. Het legt afwijkingen van micron-niveau in dikte volledig bloot en maakt inline, contactloze, uiterst nauwkeurige kwaliteitscontrole mogelijk om echt te worden geïmplementeerd op productielijnen.
Aangezien folies steeds dunner worden gefabriceerd met steeds hogere precisie-eisen, is spectrale confocale meer dan alleen een meetinstrument. Het dient als kritieke ondersteuning voor transparante materialen om superieure kwaliteit en hogere opbrengsten te bereiken.
Uw bericht moet tussen de 20-3.000 tekens bevatten!
Dutch
