новости компании о Прощайте, расфокусировка | Спектральная конфокальность обеспечивает внутрипроизводственное измерение толщины прозрачных пленок микронного уровня

В киноиндустрии измерение толщины прозрачных материалов давно является проблемой отрасли. Для упаковочных пленок из ПЭТ, оптических защитных пленок и сепараторов литий-ионных аккумуляторов отклонения толщины на микронном уровне могут напрямую влиять на светопропускание, механическую прочность и электрохимические характеристики. Традиционная лазерная триангуляция часто страдает от расфокусировки на прозрачных материалах; ультразвуковые методы не обладают достаточной точностью; гравиметрический метод поддерживает только автономный выборочный контроль и не может осуществлять мониторинг в режиме реального времени. Спектральная конфокальная технология идеально решает задачу высокоточного измерения толщины прозрачных пленок.

Спектральная конфокальная технология — это высокоточная технология измерения смещения, основанная на кодировании длины волны. Она преобразует хроматическую аберрацию, недостаток традиционной оптики, в основной метод измерения расстояния. Совместимая с широким спектром материалов, включая прозрачные, полупрозрачные, высокоотражающие и низкоотражающие поверхности, она обеспечивает точность измерения менее микрометра.

Белый свет проходит через дисперсную систему линз. Свет разной длины волны фокусируется в разных точках вдоль оптической оси: коротковолновый синий свет находится близко к линзе, а длинноволновый красный свет — дальше от линзы. Только лучи света, точно попадающие в фокусную точку, дают сильное отражение; весь остальной рассеянный свет отфильтровывается диафрагмой. Спектрометр определяет центральную длину волны отраженного света, по которой можно рассчитать положение измеряемой поверхности. Это обеспечивает стабильное измерение и высокую помехоустойчивость.

Когда световой луч попадает на прозрачную пленку, генерируются два отраженных сигнала: отражение от верхней поверхности формирует первый спектральный пик. Свет проникает сквозь пленку и отражается от нижней поверхности, формируя второй спектральный пик. Разница оптических путей рассчитывается по этим двум пикам. Деление этого значения на показатель преломления пленки n дает фактическую физическую толщину: Физическая толщина d = разница оптических путей ÷ показатель преломления n

Преимущества: Она получает как положение, так и толщину за одно измерение. Бесконтактная и неразрушающая, она не требует остановки оборудования и подходит для мониторинга в режиме реального времени на производственных линиях.

Спектральные конфокальные датчики могут улучшить возможности обнаружения сложных поверхностей и микроструктур за счет различных вариантов размера пятна:

• Малое пятно: подходит для измерения крошечных объектов, тонких контуров и поверхностей со сложными профилями.
• Большое пятно: идеально подходит для шероховатых поверхностей и сильно рассеивающих материалов. Оно подавляет влияние локальной текстуры, обеспечивая более стабильные сигналы.
• Режим четырех пятен: Несколько световых пятен выполняют независимые измерения с последующим вычислением данных, уменьшая погрешности измерения, вызванные неровностью поверхности, наклоном и локальными дефектами.

Это преимущество позволяет использовать спектральную конфокальную технологию не только для измерения толщины плоских пленок, но и для контроля защитных пленок, оптических покрытий, композитных пленок и прозрачных материалов со сравнительно сложными поверхностными структурами.

От «проблем с расфокусированным измерением» до «считывания расстояния по длине волны» — спектральная конфокальная технология переопределяет метод измерения прозрачных пленок с помощью одного луча белого света. Она полностью выявляет отклонения толщины на микронном уровне и позволяет по-настоящему реализовать в режиме реального времени, бесконтактный, высокоточный контроль качества на производственных линиях.

Поскольку пленки производятся все тоньше и тоньше с постоянно растущими требованиями к точности, спектральная конфокальная технология — это больше, чем просто измерительный прибор. Она обеспечивает критическую поддержку для прозрачных материалов в достижении превосходного качества и более высоких показателей выхода.